Inelastic Scattering of X-Rays with Very High Energy Resolution: Springer Tracts in Modern Physics, cartea 125
Autor Eberhard Burkelen Limba Engleză Paperback – 3 oct 2013
Din seria Springer Tracts in Modern Physics
- 15% Preț: 635.31 lei
- 18% Preț: 869.40 lei
- 18% Preț: 935.90 lei
- 20% Preț: 814.68 lei
- 20% Preț: 816.03 lei
- 18% Preț: 1395.91 lei
- 18% Preț: 769.65 lei
- Preț: 401.40 lei
- Preț: 419.69 lei
- Preț: 417.77 lei
- Preț: 379.59 lei
- Preț: 379.42 lei
- Preț: 373.56 lei
- Preț: 371.10 lei
- Preț: 375.26 lei
- Preț: 376.76 lei
- Preț: 374.69 lei
- Preț: 379.59 lei
- Preț: 383.53 lei
- Preț: 372.98 lei
- Preț: 378.26 lei
- 18% Preț: 866.16 lei
- Preț: 378.26 lei
- Preț: 377.51 lei
- Preț: 376.02 lei
- Preț: 370.36 lei
- Preț: 369.62 lei
- Preț: 370.36 lei
- Preț: 376.97 lei
- Preț: 374.30 lei
- Preț: 383.74 lei
- Preț: 372.06 lei
- Preț: 376.97 lei
- Preț: 383.53 lei
- Preț: 372.60 lei
- Preț: 369.78 lei
- Preț: 374.89 lei
- Preț: 376.60 lei
- Preț: 373.56 lei
- Preț: 380.17 lei
- Preț: 373.76 lei
- Preț: 376.76 lei
- Preț: 378.46 lei
- 18% Preț: 1200.14 lei
Preț: 371.32 lei
Nou
Puncte Express: 557
Preț estimativ în valută:
71.06€ • 73.82$ • 59.03£
71.06€ • 73.82$ • 59.03£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 03-17 februarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783662150092
ISBN-10: 3662150093
Pagini: 136
Ilustrații: XV, 114 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 7 mm
Greutate: 0.2 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1991
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Tracts in Modern Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3662150093
Pagini: 136
Ilustrații: XV, 114 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 7 mm
Greutate: 0.2 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1991
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Tracts in Modern Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
Basic considerations.- X-ray sources.- The INELAX instrument.- Other approaches to inelastic X-ray scattering.- Applications of inelastic X-ray scattering.- The future of the technique.- Final remarks.