Inelastic Scattering of X-Rays with Very High Energy Resolution: Springer Tracts in Modern Physics, cartea 125
Autor Eberhard Burkelen Limba Engleză Paperback – 3 oct 2013
Din seria Springer Tracts in Modern Physics
- 15% Preț: 648.42 lei
- 18% Preț: 887.38 lei
- 18% Preț: 955.25 lei
- 20% Preț: 814.68 lei
- 20% Preț: 816.03 lei
- 18% Preț: 1424.83 lei
- 18% Preț: 785.55 lei
- Preț: 409.63 lei
- Preț: 428.30 lei
- Preț: 426.34 lei
- Preț: 387.38 lei
- Preț: 387.20 lei
- Preț: 381.21 lei
- Preț: 378.71 lei
- Preț: 382.95 lei
- Preț: 384.48 lei
- Preț: 382.36 lei
- Preț: 387.38 lei
- Preț: 391.40 lei
- Preț: 380.63 lei
- Preț: 386.00 lei
- 18% Preț: 884.07 lei
- Preț: 386.00 lei
- Preț: 385.25 lei
- Preț: 383.71 lei
- Preț: 377.95 lei
- Preț: 377.18 lei
- Preț: 377.95 lei
- Preț: 384.70 lei
- Preț: 381.98 lei
- Preț: 391.61 lei
- Preț: 379.68 lei
- Preț: 384.70 lei
- Preț: 391.40 lei
- Preț: 380.25 lei
- Preț: 377.35 lei
- Preț: 382.57 lei
- Preț: 384.31 lei
- Preț: 381.21 lei
- Preț: 387.96 lei
- Preț: 381.43 lei
- Preț: 384.48 lei
- Preț: 386.22 lei
- 18% Preț: 1224.99 lei
Preț: 378.92 lei
Nou
Puncte Express: 568
Preț estimativ în valută:
72.51€ • 75.25$ • 60.61£
72.51€ • 75.25$ • 60.61£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 15-29 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783662150092
ISBN-10: 3662150093
Pagini: 136
Ilustrații: XV, 114 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 7 mm
Greutate: 0.2 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1991
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Tracts in Modern Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3662150093
Pagini: 136
Ilustrații: XV, 114 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 7 mm
Greutate: 0.2 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1991
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Springer Tracts in Modern Physics
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
Basic considerations.- X-ray sources.- The INELAX instrument.- Other approaches to inelastic X-ray scattering.- Applications of inelastic X-ray scattering.- The future of the technique.- Final remarks.