Low-dimensional Semiconductors: Materials, Physics, Technology, Devices: Series on Semiconductor Science and Technology, cartea 3
Autor M. J. Kellyen Limba Engleză Hardback – 23 noi 1995
Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
---|---|---|
Paperback (1) | 705.54 lei 31-37 zile | |
Clarendon Press – 23 noi 1995 | 705.54 lei 31-37 zile | |
Hardback (1) | 667.80 lei 31-37 zile | |
OUP OXFORD – 23 noi 1995 | 667.80 lei 31-37 zile |
Din seria Series on Semiconductor Science and Technology
- 15% Preț: 551.41 lei
- 12% Preț: 619.58 lei
- 14% Preț: 533.82 lei
- 11% Preț: 500.30 lei
- 33% Preț: 560.79 lei
- 18% Preț: 1035.47 lei
- 34% Preț: 1141.57 lei
- 26% Preț: 766.24 lei
- 34% Preț: 1173.88 lei
- 34% Preț: 1072.61 lei
- 30% Preț: 661.35 lei
- 18% Preț: 383.64 lei
- 29% Preț: 626.83 lei
- 30% Preț: 821.64 lei
- 19% Preț: 241.47 lei
- 28% Preț: 467.38 lei
- 25% Preț: 739.46 lei
- 30% Preț: 565.50 lei
- 34% Preț: 659.04 lei
- 34% Preț: 828.01 lei
- 34% Preț: 1074.00 lei
- 34% Preț: 1141.99 lei
- 34% Preț: 1059.64 lei
Preț: 667.80 lei
Preț vechi: 1001.57 lei
-33% Nou
Puncte Express: 1002
Preț estimativ în valută:
127.80€ • 132.93$ • 105.51£
127.80€ • 132.93$ • 105.51£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 01-07 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780198517818
ISBN-10: 0198517815
Pagini: 564
Ilustrații: halftones, numerous line figures, tables
Dimensiuni: 161 x 240 x 37 mm
Greutate: 1.13 kg
Editura: OUP OXFORD
Colecția OUP Oxford
Seria Series on Semiconductor Science and Technology
Locul publicării:Oxford, United Kingdom
ISBN-10: 0198517815
Pagini: 564
Ilustrații: halftones, numerous line figures, tables
Dimensiuni: 161 x 240 x 37 mm
Greutate: 1.13 kg
Editura: OUP OXFORD
Colecția OUP Oxford
Seria Series on Semiconductor Science and Technology
Locul publicării:Oxford, United Kingdom
Recenzii
The practical forms of heterojunctions, multilayer structures and other microstructures are treated in depth and the wide range of devices utilising these stuctures are treated in theoretical, technological and applicability terms.