Material Characterization Using Ion Beams: NATO Science Series B:, cartea 28
Editat de J. Thomasen Limba Engleză Paperback – 25 noi 2012
Din seria NATO Science Series B:
- 5% Preț: 372.94 lei
- 5% Preț: 366.59 lei
- 5% Preț: 715.53 lei
- 18% Preț: 1395.65 lei
- 5% Preț: 370.58 lei
- 5% Preț: 718.46 lei
- Preț: 388.91 lei
- 5% Preț: 1434.32 lei
- 5% Preț: 377.82 lei
- 5% Preț: 1095.61 lei
- 5% Preț: 706.49 lei
- 5% Preț: 1403.64 lei
- 18% Preț: 950.38 lei
- 5% Preț: 717.91 lei
- 5% Preț: 722.10 lei
- 5% Preț: 1109.22 lei
- 5% Preț: 1419.24 lei
- 5% Preț: 363.86 lei
- 5% Preț: 1107.97 lei
- 5% Preț: 1098.17 lei
- 5% Preț: 1099.61 lei
- 5% Preț: 1090.37 lei
- 5% Preț: 710.46 lei
- 5% Preț: 1418.16 lei
- 5% Preț: 1989.72 lei
- 5% Preț: 719.38 lei
- 5% Preț: 1427.76 lei
- 5% Preț: 1101.05 lei
- 5% Preț: 1404.20 lei
- 5% Preț: 1281.48 lei
- 5% Preț: 1021.91 lei
- 5% Preț: 385.28 lei
- 5% Preț: 1096.34 lei
- Preț: 381.12 lei
- 5% Preț: 713.16 lei
- 5% Preț: 1105.42 lei
- 5% Preț: 366.74 lei
- 5% Preț: 1100.54 lei
- 5% Preț: 1099.61 lei
- 5% Preț: 1288.39 lei
- 5% Preț: 1115.57 lei
- 5% Preț: 713.37 lei
- 5% Preț: 1940.19 lei
- 5% Preț: 716.10 lei
Preț: 403.27 lei
Nou
Puncte Express: 605
Preț estimativ în valută:
77.23€ • 79.57$ • 64.70£
77.23€ • 79.57$ • 64.70£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 24 februarie-10 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781468408584
ISBN-10: 1468408585
Pagini: 536
Ilustrații: XVIII, 517 p. 79 illus.
Greutate: 0.84 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1978
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria NATO Science Series B:
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1468408585
Pagini: 536
Ilustrații: XVIII, 517 p. 79 illus.
Greutate: 0.84 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1978
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria NATO Science Series B:
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I Ion Beams: Production and Interaction with Matter.- Energy Loss of Charged Particles.- Some General Considerations of Ion Beam Production and Manipulation.- II Surface Studies: keV Range Ions.- Applications of Low-Energy Ion Scattering.- Ion Beam Induced Light Emission: Mechanisms and Analytical Applications.- Complementary Analysis Techniques: AES, ESCA.- III In-Depth Analysis.- Fundamental Aspects of Ion Microanalysis.- Ion Induced X-rays: General Description.- The Evolving Use of Electrons, Protons and Heavy Ions in the Characterisation of Materials.- Backscattering of Ions With Intermediate Energies.- Backscattering Analysis With MeV 4He Ions.- Microanalysis by Direct Observation of Nuclear Reactions.- IV Solid State Studies Using Channeling Effects.- Channeling: General Description.- Flux Peaking — Lattice Location.- Analysis of Defects by Channeling.- Application of MeV Ion Channeling to Surface Studies.- General Conclusions.- General Conclusions.- Participants.