Material Characterization Using Ion Beams: NATO Science Series B:, cartea 28
Editat de J. Thomasen Limba Engleză Paperback – 25 noi 2012
Din seria NATO Science Series B:
- 5% Preț: 375.70 lei
- 5% Preț: 369.29 lei
- 5% Preț: 720.84 lei
- 18% Preț: 1406.03 lei
- 5% Preț: 373.33 lei
- 5% Preț: 723.78 lei
- Preț: 391.79 lei
- 5% Preț: 1445.00 lei
- 5% Preț: 380.61 lei
- 5% Preț: 1103.75 lei
- 5% Preț: 711.72 lei
- 5% Preț: 1414.08 lei
- 18% Preț: 957.44 lei
- 5% Preț: 723.21 lei
- 5% Preț: 727.44 lei
- 5% Preț: 1117.46 lei
- 5% Preț: 1429.80 lei
- 5% Preț: 366.56 lei
- 5% Preț: 1116.21 lei
- 5% Preț: 1106.33 lei
- 5% Preț: 1107.77 lei
- 5% Preț: 1098.48 lei
- 5% Preț: 715.71 lei
- 5% Preț: 1428.71 lei
- 5% Preț: 2004.54 lei
- 5% Preț: 724.70 lei
- 5% Preț: 1438.38 lei
- 5% Preț: 1109.23 lei
- 5% Preț: 1414.64 lei
- 5% Preț: 1291.01 lei
- 5% Preț: 1029.50 lei
- 5% Preț: 388.12 lei
- 5% Preț: 1104.48 lei
- Preț: 383.93 lei
- 5% Preț: 718.46 lei
- 5% Preț: 1113.63 lei
- 5% Preț: 369.45 lei
- 5% Preț: 1108.72 lei
- 5% Preț: 1107.77 lei
- 5% Preț: 1297.99 lei
- 5% Preț: 1123.87 lei
- 5% Preț: 718.65 lei
- 5% Preț: 1954.62 lei
- 5% Preț: 721.40 lei
Preț: 406.25 lei
Nou
Puncte Express: 609
Preț estimativ în valută:
77.74€ • 80.64$ • 64.82£
77.74€ • 80.64$ • 64.82£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 27 martie-10 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781468408584
ISBN-10: 1468408585
Pagini: 536
Ilustrații: XVIII, 517 p. 79 illus.
Greutate: 0.84 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1978
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria NATO Science Series B:
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1468408585
Pagini: 536
Ilustrații: XVIII, 517 p. 79 illus.
Greutate: 0.84 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1978
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria NATO Science Series B:
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
I Ion Beams: Production and Interaction with Matter.- Energy Loss of Charged Particles.- Some General Considerations of Ion Beam Production and Manipulation.- II Surface Studies: keV Range Ions.- Applications of Low-Energy Ion Scattering.- Ion Beam Induced Light Emission: Mechanisms and Analytical Applications.- Complementary Analysis Techniques: AES, ESCA.- III In-Depth Analysis.- Fundamental Aspects of Ion Microanalysis.- Ion Induced X-rays: General Description.- The Evolving Use of Electrons, Protons and Heavy Ions in the Characterisation of Materials.- Backscattering of Ions With Intermediate Energies.- Backscattering Analysis With MeV 4He Ions.- Microanalysis by Direct Observation of Nuclear Reactions.- IV Solid State Studies Using Channeling Effects.- Channeling: General Description.- Flux Peaking — Lattice Location.- Analysis of Defects by Channeling.- Application of MeV Ion Channeling to Surface Studies.- General Conclusions.- General Conclusions.- Participants.