Unit Root Tests in Time Series Volume 2: Extensions and Developments: Palgrave Texts in Econometrics
Autor K. Pattersonen Limba Engleză Paperback – 6 iul 2012
Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
---|---|---|
Paperback (1) | 641.38 lei 6-8 săpt. | |
Palgrave Macmillan UK – 6 iul 2012 | 641.38 lei 6-8 săpt. | |
Hardback (1) | 647.96 lei 6-8 săpt. | |
Palgrave Macmillan UK – 6 iul 2012 | 647.96 lei 6-8 săpt. |
Preț: 641.38 lei
Preț vechi: 754.57 lei
-15% Nou
Puncte Express: 962
Preț estimativ în valută:
122.75€ • 127.50$ • 101.96£
122.75€ • 127.50$ • 101.96£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 03-17 februarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780230250277
ISBN-10: 0230250270
Pagini: 550
Ilustrații: XXXV, 550 p. 12 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 32 mm
Greutate: 0.81 kg
Ediția:2012
Editura: Palgrave Macmillan UK
Colecția Palgrave Macmillan
Seria Palgrave Texts in Econometrics
Locul publicării:London, United Kingdom
ISBN-10: 0230250270
Pagini: 550
Ilustrații: XXXV, 550 p. 12 illus.
Dimensiuni: 155 x 235 x 32 mm
Greutate: 0.81 kg
Ediția:2012
Editura: Palgrave Macmillan UK
Colecția Palgrave Macmillan
Seria Palgrave Texts in Econometrics
Locul publicării:London, United Kingdom
Cuprins
Introduction Functional Form and Nonparametric Tests for a Unit Root Fractional Integration Semi-parametric Estimation of the Long Memory Parameter Smooth Transition Nonlinear Models Threshold Autoregressions Structural Breaks in AR Models Structural Breaks with Unknown Break Dates Conditional Heteroscedasticity and Unit Root Tests
Notă biografică
KERRY PATTERSON Professor of Econometrics at the University of Reading, UK. He has established an international reputation in Econometrics and has published over 50 articles in leading journals, including the Journal of the Royal Statistical Society, the Review of Economics and Statistics, the Economic Journal and the International Journal of Forecasting. He is co-editor, with Terence Mills, of the Palgrave Handbook of Econometrics, Volumes 1 and 2, author of Unit Root Tests in Time Series, Volume 1, and author of a Primer for Unit Root Testing.