Applied Scanning Probe Methods VIII: Scanning Probe Microscopy Techniques: NanoScience and Technology
Editat de Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitorien Limba Engleză Hardback – 10 ian 2008
Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
---|---|---|
Paperback (1) | 594.69 lei 38-44 zile | |
Springer Berlin, Heidelberg – 16 noi 2010 | 594.69 lei 38-44 zile | |
Hardback (1) | 959.19 lei 6-8 săpt. | |
Springer Berlin, Heidelberg – 10 ian 2008 | 959.19 lei 6-8 săpt. |
Din seria NanoScience and Technology
- 24% Preț: 905.77 lei
- 18% Preț: 1123.35 lei
- 18% Preț: 964.71 lei
- 18% Preț: 1121.76 lei
- 15% Preț: 655.60 lei
- 18% Preț: 1390.11 lei
- 18% Preț: 954.31 lei
- 15% Preț: 645.79 lei
- 18% Preț: 953.03 lei
- 18% Preț: 945.79 lei
- 15% Preț: 639.90 lei
- 18% Preț: 1109.16 lei
- 23% Preț: 779.85 lei
- 18% Preț: 944.99 lei
- 18% Preț: 957.62 lei
- 18% Preț: 971.01 lei
- 18% Preț: 1232.26 lei
- 18% Preț: 960.30 lei
- 15% Preț: 646.62 lei
- 18% Preț: 1249.31 lei
- 15% Preț: 636.80 lei
- 18% Preț: 1232.26 lei
- 24% Preț: 821.40 lei
- 18% Preț: 948.92 lei
- 24% Preț: 1827.86 lei
- 18% Preț: 951.91 lei
- 24% Preț: 794.19 lei
- 18% Preț: 953.03 lei
- 23% Preț: 782.54 lei
- 18% Preț: 952.57 lei
- 18% Preț: 948.16 lei
- 18% Preț: 954.93 lei
- 24% Preț: 809.39 lei
- 23% Preț: 781.22 lei
- 18% Preț: 954.93 lei
- 18% Preț: 1830.34 lei
- 15% Preț: 641.71 lei
- 18% Preț: 1228.96 lei
- 18% Preț: 1120.37 lei
- 18% Preț: 956.81 lei
- 15% Preț: 592.59 lei
- 18% Preț: 953.65 lei
- 18% Preț: 954.62 lei
- 18% Preț: 955.25 lei
- 18% Preț: 953.35 lei
- 18% Preț: 786.84 lei
Preț: 959.19 lei
Preț vechi: 1169.74 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1439
Preț estimativ în valută:
183.56€ • 190.48$ • 153.43£
183.56€ • 190.48$ • 153.43£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 15-29 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783540740797
ISBN-10: 3540740791
Pagini: 525
Ilustrații: LIX, 465 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 27 mm
Greutate: 0.84 kg
Ediția:2008
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria NanoScience and Technology
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3540740791
Pagini: 525
Ilustrații: LIX, 465 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 27 mm
Greutate: 0.84 kg
Ediția:2008
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria NanoScience and Technology
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
Professional/practitionerCuprins
Background-Free Apertureless Near-Field Optical Imaging.- Critical Dimension Atomic Force Microscopy for Sub-50-nm Microelectronics Technology Nodes.- Near Field Probes: From Optical Fibers to Optical Nanoantennas.- Carbon Nanotubes as SPM Tips: Mechanical Properties of Nanotube Tips and Imaging.- Scanning Probes for the Life Sciences.- Self-Sensing Cantilever Sensor for Bioscience.- AFM Sensors in Scanning Electron and Ion Microscopes: Tools for Nanomechanics, Nanoanalytics, and Nanofabrication.- Cantilever Spring-Constant Calibration in Atomic Force Microscopy.- Frequency Modulation Atomic Force Microscopy in Liquids.- Kelvin Probe Force Microscopy: Recent Advances and Applications.- Application of Scanning Capacitance Microscopy to Analysis at the Nanoscale.- Probing Electrical Transport Properties at the Nanoscale by Current-Sensing Atomic Force Microscopy.
Caracteristici
First book summarizing the state-of-the-art of this technique Real industrial applications included Includes supplementary material: sn.pub/extras