Testverfahren in der Mikroelektronik (Mikroelektronik) de Wilfried Daehn

Testverfahren in der Mikroelektronik: Methoden und Werkzeuge: Mikroelektronik

Wilfried Daehn

de Limba Germană Paperback – 19 oct 2011

Die Akzeptanz mikroelektronischer Systemlösungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen hängt in starkem Maße von der Fehlerfreiheit und Zuverlässigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gewährleisten. Die Komplexität heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen Überblick über die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formlierung der Testaufgabe zieht sich dabei als roter Faden durch das ganze Buch,von der Fehlermodellierung bis hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.

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Cuprins

Inhaltsverzeichnls.- 1 Einführung und Abgrenzung.- 1.1 Testen im Produktionsablauf.- 1.2 Begriffsklärung und Abgrenzung.- 2 Fehlermodelle.- 2.1 Funktionsfehlermodell.- 2.2 Haftfehlermodell.- 2.3 CMOS-Unterbrechungsfehler.- 2.4 Verzögerungsfehler.- 3 Testmusterberechnung.- 3.1 Testmusterberechnung für kombinatorische Schaltungen.- 3.2 Testmusterberechnung für sequentielle Schaltungen.- 4 Fehlersimulation.- 4.1 Simulationsmethoden.- 4.2 Serielle Fehlersimulation.- 4.3 Fehlerparallele Fehlersimulation.- 44 Musterparallele Fehlersimulation.- 4.5 Deduktive Fehlersimulation.- 4.6 Nebenläufige Fehlersimulation.- 4.7 Simulation it einer Fehlerstichprobe.- 5 Testbarkeitsanalyse.- 5.1 Steuerbarkeit, Beobachtbarkeit, und Testbarkeit kombinatorischer Schaltungen.- 5.2 Statistische Verfahren zur Testbarkeitsanalyse.- 5.3 Probabilistische Verfahren.- 5.4 Charakterisierung schwer erkennbarer Fehler.- 6 Testfreundlicher Entwurf.- 6.1 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Fehlermodellierung.- 6.2 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Testanwendung.- 6.3 Testfreundlicher Entwurf zur Vereinfachung der Testmusterberechnung.- 7 Selbsttest integrierter Schaltungen.- 7.1 Architektur selbsttestender Schaltungen.- 7.2 Testmustergeneratoren für den eingebauten Selbsttest.- 7.3 Testdatenkompression.- 7.4 Blockselbsttestverfahren.- A1 Hypergeometrisch und binomial verteilte Zufallsvariable.- A2 Wahrscheinlichkeitsfunktion und Momente betavermeilter Zufallsvariabler.- A3 Primitive Polynome bis zum Grad 258.- Literatur.

Textul de pe ultima copertă

Die Akzeptanz mikroelektronischer Systemlösungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen hängt in starkem Maße von der Fehlerfreiheit und Zuverlässigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gewährleisten. Nur durch konsequentes Testen aller gefertigten Baugruppen und ICs können die um den Faktor 400 schärferen Anforderungen an die Fehlerfreiheit erfüllt werden. Die Komplexität heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen Überblick über die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formulierung der Testaufgabe zieht sich dabei von Beginn an als roter Faden durch alle Kapitel des Buches, beginnend bei der Fehlermodellierung über die Testmusterberechnung, Fehlersimulation und Testbarkeitsanalyse hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.