Applied Measurement with jMetrik
Autor J. Patrick Meyeren Limba Engleză Hardback – 27 iun 2014
Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
---|---|---|
Paperback (1) | 320.19 lei 6-8 săpt. | |
Taylor & Francis – 25 iun 2014 | 320.19 lei 6-8 săpt. | |
Hardback (1) | 868.89 lei 6-8 săpt. | |
Taylor & Francis – 27 iun 2014 | 868.89 lei 6-8 săpt. |
Preț: 868.89 lei
Preț vechi: 1177.14 lei
-26% Nou
Puncte Express: 1303
Preț estimativ în valută:
166.30€ • 173.33$ • 138.44£
166.30€ • 173.33$ • 138.44£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 04-18 ianuarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780415531955
ISBN-10: 0415531950
Pagini: 170
Ilustrații: 74
Dimensiuni: 152 x 229 x 15 mm
Greutate: 0.36 kg
Ediția:New.
Editura: Taylor & Francis
Colecția Routledge
Locul publicării:Oxford, United Kingdom
ISBN-10: 0415531950
Pagini: 170
Ilustrații: 74
Dimensiuni: 152 x 229 x 15 mm
Greutate: 0.36 kg
Ediția:New.
Editura: Taylor & Francis
Colecția Routledge
Locul publicării:Oxford, United Kingdom
Cuprins
Preface. Acknowledgements. Chapter 1: Data Management. Chapter 2: Item Scoring. Chapter 3: Test Scaling. Chapter 4: Item Analysis. Chapter 5: Reliability. Chapter 6: Differential Item Functioning. Chapter 7: Rasch Measurement. Chapter 8: Polytomous Rasch Models. Chapter 9: Plotting Item and Test Characteristics. Chapter 10: IRT Scale Linking and Score Equating. References. Appendix
Notă biografică
J. Patrick Meyer is an associate professor in the Curry School of Education at the University of Virginia
Descriere
Applied Measurement with jMetrik reviews psychometric theory and describes how to use jMetrik to conduct a comprehensive psychometric analysis.