Identification of Defects in Semiconductors: Semiconductors and Semimetals, cartea 51A
R. K. Willardson, Eicke R. Weber Michael Stavolaen Limba Engleză Hardback – iul 1998
Din seria Semiconductors and Semimetals
- 32% Preț: 862.28 lei
- 32% Preț: 865.82 lei
- 25% Preț: 960.76 lei
- 24% Preț: 1040.46 lei
- 35% Preț: 1039.33 lei
- 24% Preț: 1044.67 lei
- 19% Preț: 1111.17 lei
- 19% Preț: 1114.72 lei
- 19% Preț: 1106.85 lei
- 28% Preț: 976.20 lei
- 28% Preț: 979.48 lei
- 28% Preț: 975.52 lei
- 28% Preț: 977.47 lei
- 28% Preț: 975.18 lei
- 39% Preț: 976.36 lei
- 23% Preț: 436.08 lei
- 23% Preț: 442.89 lei
- 27% Preț: 1394.55 lei
- 27% Preț: 1395.80 lei
- 27% Preț: 1398.52 lei
- 27% Preț: 1398.79 lei
- 27% Preț: 1404.74 lei
- 27% Preț: 1400.31 lei
- 27% Preț: 1402.67 lei
- 27% Preț: 1398.79 lei
- 27% Preț: 1395.24 lei
- 27% Preț: 1398.52 lei
- 27% Preț: 1402.67 lei
- 27% Preț: 1472.72 lei
- 27% Preț: 1475.22 lei
- 27% Preț: 1474.08 lei
- 27% Preț: 1474.08 lei
- 27% Preț: 1473.54 lei
- 27% Preț: 1420.51 lei
- 27% Preț: 1471.08 lei
- 27% Preț: 1485.80 lei
- 27% Preț: 1476.86 lei
- 9% Preț: 982.50 lei
- 32% Preț: 1042.17 lei
- 32% Preț: 1041.76 lei
- 32% Preț: 989.21 lei
- 27% Preț: 1314.15 lei
- 32% Preț: 980.08 lei
- 32% Preț: 988.25 lei
- 32% Preț: 980.52 lei
- 32% Preț: 1045.62 lei
- 32% Preț: 1043.45 lei
- 9% Preț: 1039.14 lei
- 32% Preț: 1041.13 lei
Preț: 1396.72 lei
Preț vechi: 1913.32 lei
-27% Nou
Puncte Express: 2095
Preț estimativ în valută:
267.33€ • 280.46$ • 221.76£
267.33€ • 280.46$ • 221.76£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 29 ianuarie-12 februarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780127521596
ISBN-10: 0127521593
Pagini: 376
Dimensiuni: 152 x 229 x 22 mm
Greutate: 0.69 kg
Editura: ELSEVIER SCIENCE
Seria Semiconductors and Semimetals
ISBN-10: 0127521593
Pagini: 376
Dimensiuni: 152 x 229 x 22 mm
Greutate: 0.69 kg
Editura: ELSEVIER SCIENCE
Seria Semiconductors and Semimetals
Public țintă
AUDIENCE: Researchers, graduate students and practitioners in materials science (electronic materials field), and electrical engineering (field of electronic devices).Cuprins
List of Contributors. Preface. G.D. Watkins, EPR and ENDOR Studies of Defects in Semiconductors. J.M. Spaeth, Magneto-optical and Electrical Detection of Paramagnetic Resonance in Semiconductors. T.A. Kennedy and E.R. Glaser, Magnetic Resonance of Epitaxial Layers Detected by Photoluminescence. K.H. Chow, B.Hitti and R.F. Kiefl, uSR on Muonium in Semiconductors and its Relation to Hydrogen. K.Saarinen, P.Hautojarvi, and C. Corbel, Positron Annihilation Sprectroscopy of Defects in Semiconductors. R. Jones and P.R. Briddon, The Ab Initio Cluster Method and the Dynamics of Defects in Semiconductors. Subject Index. Contents of Volumes in This Series.