Synchrotron Radiation in Materials Research: Volume 143: MRS Proceedings
Editat de Roy Clarke, John Gland, John H. Weaveren Limba Engleză Hardback – 23 apr 1989
Din seria MRS Proceedings
- 11% Preț: 656.01 lei
- 14% Preț: 674.22 lei
- 14% Preț: 671.48 lei
- 11% Preț: 660.14 lei
- 14% Preț: 677.02 lei
- Preț: 269.02 lei
- 11% Preț: 658.16 lei
- 11% Preț: 657.68 lei
- 14% Preț: 674.99 lei
- 14% Preț: 677.79 lei
- Preț: 264.40 lei
- 14% Preț: 672.29 lei
- 11% Preț: 551.43 lei
- 14% Preț: 685.92 lei
- 11% Preț: 657.68 lei
- 14% Preț: 675.80 lei
- Preț: 216.62 lei
- Preț: 268.13 lei
- Preț: 269.80 lei
- 14% Preț: 678.50 lei
- Preț: 237.87 lei
- 11% Preț: 663.41 lei
- Preț: 425.43 lei
- Preț: 259.97 lei
- Preț: 252.32 lei
- 11% Preț: 570.09 lei
- Preț: 262.56 lei
- Preț: 259.79 lei
- 11% Preț: 659.32 lei
- 11% Preț: 660.95 lei
- 11% Preț: 545.34 lei
- Preț: 258.74 lei
- 11% Preț: 657.68 lei
- 14% Preț: 709.74 lei
- 11% Preț: 650.61 lei
- Preț: 205.50 lei
- 11% Preț: 658.49 lei
- Preț: 265.35 lei
- 11% Preț: 659.64 lei
- 11% Preț: 656.85 lei
- 11% Preț: 656.01 lei
- 14% Preț: 674.22 lei
- Preț: 225.88 lei
- 11% Preț: 659.32 lei
- 14% Preț: 741.66 lei
- 14% Preț: 686.30 lei
- Preț: 224.93 lei
- 14% Preț: 686.14 lei
- 14% Preț: 676.43 lei
- Preț: 224.72 lei
Preț: 270.53 lei
Nou
Puncte Express: 406
Preț estimativ în valută:
51.77€ • 54.96$ • 43.14£
51.77€ • 54.96$ • 43.14£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 27 decembrie 24 - 10 ianuarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781558990166
ISBN-10: 155899016X
Pagini: 304
Dimensiuni: 152 x 228 x 28 mm
Greutate: 0.72 kg
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria MRS Proceedings
Locul publicării:New York, United States
ISBN-10: 155899016X
Pagini: 304
Dimensiuni: 152 x 228 x 28 mm
Greutate: 0.72 kg
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria MRS Proceedings
Locul publicării:New York, United States
Cuprins
Part I. Structure of Surfaces, Interfaces and Multilayers; Part II. Absorption Spectroscopy and Electronic Structure; Part III. Absorption Spectroscopy: Structural Measurements; Part IV. Crystallography and Small-angle Scattering; Part V. X-ray Microprobe, Lithography and VUV Techniques; Part VI. Abstracts of Unpublished Papers; Author index; Subject index.
Descriere
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.