Synchrotron Radiation in Materials Research: Volume 143: MRS Proceedings
Editat de Roy Clarke, John Gland, John H. Weaveren Limba Engleză Hardback – 23 apr 1989
Din seria MRS Proceedings
- 11% Preț: 667.99 lei
- 14% Preț: 686.55 lei
- 14% Preț: 683.76 lei
- 11% Preț: 672.21 lei
- 14% Preț: 689.39 lei
- Preț: 273.99 lei
- 11% Preț: 670.16 lei
- 11% Preț: 669.69 lei
- 14% Preț: 755.23 lei
- 14% Preț: 690.19 lei
- Preț: 269.28 lei
- 14% Preț: 684.58 lei
- 11% Preț: 561.51 lei
- 14% Preț: 698.48 lei
- 11% Preț: 669.69 lei
- 14% Preț: 688.16 lei
- Preț: 220.59 lei
- Preț: 273.07 lei
- Preț: 274.76 lei
- 14% Preț: 687.34 lei
- Preț: 242.25 lei
- 11% Preț: 675.53 lei
- 14% Preț: 698.84 lei
- Preț: 264.75 lei
- Preț: 256.96 lei
- 11% Preț: 580.49 lei
- Preț: 267.41 lei
- Preț: 264.59 lei
- 11% Preț: 671.36 lei
- 11% Preț: 673.03 lei
- 11% Preț: 555.29 lei
- Preț: 263.51 lei
- 11% Preț: 669.69 lei
- 14% Preț: 722.72 lei
- 11% Preț: 662.50 lei
- Preț: 209.29 lei
- 11% Preț: 670.51 lei
- Preț: 270.24 lei
- 11% Preț: 671.70 lei
- 11% Preț: 668.84 lei
- 11% Preț: 667.99 lei
- 14% Preț: 686.55 lei
- 14% Preț: 690.91 lei
- Preț: 230.02 lei
- 11% Preț: 671.36 lei
- Preț: 229.07 lei
- Preț: 433.16 lei
- 14% Preț: 698.70 lei
- 14% Preț: 688.80 lei
- Preț: 228.85 lei
Preț: 275.51 lei
Nou
Puncte Express: 413
Preț estimativ în valută:
52.74€ • 55.30$ • 43.57£
52.74€ • 55.30$ • 43.57£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 29 ianuarie-12 februarie 25
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781558990166
ISBN-10: 155899016X
Pagini: 304
Dimensiuni: 152 x 228 x 28 mm
Greutate: 0.72 kg
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria MRS Proceedings
Locul publicării:New York, United States
ISBN-10: 155899016X
Pagini: 304
Dimensiuni: 152 x 228 x 28 mm
Greutate: 0.72 kg
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria MRS Proceedings
Locul publicării:New York, United States
Cuprins
Part I. Structure of Surfaces, Interfaces and Multilayers; Part II. Absorption Spectroscopy and Electronic Structure; Part III. Absorption Spectroscopy: Structural Measurements; Part IV. Crystallography and Small-angle Scattering; Part V. X-ray Microprobe, Lithography and VUV Techniques; Part VI. Abstracts of Unpublished Papers; Author index; Subject index.
Descriere
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.