Synchrotron Radiation in Materials Research: Volume 143: MRS Proceedings
Editat de Roy Clarke, John Gland, John H. Weaveren Limba Engleză Hardback – 23 apr 1989
Din seria MRS Proceedings
- 11% Preț: 681.78 lei
- 14% Preț: 700.71 lei
- 14% Preț: 697.86 lei
- 11% Preț: 686.07 lei
- 14% Preț: 703.63 lei
- Preț: 279.67 lei
- 11% Preț: 684.01 lei
- 11% Preț: 683.51 lei
- 14% Preț: 770.83 lei
- 14% Preț: 704.43 lei
- Preț: 274.88 lei
- 14% Preț: 698.71 lei
- 11% Preț: 573.07 lei
- 14% Preț: 712.89 lei
- 11% Preț: 683.51 lei
- 14% Preț: 702.36 lei
- Preț: 225.17 lei
- Preț: 278.72 lei
- Preț: 280.48 lei
- 14% Preț: 701.53 lei
- Preț: 247.28 lei
- 11% Preț: 689.47 lei
- 14% Preț: 713.27 lei
- Preț: 270.25 lei
- Preț: 262.30 lei
- 11% Preț: 592.46 lei
- Preț: 272.97 lei
- Preț: 270.07 lei
- 11% Preț: 685.21 lei
- 11% Preț: 686.91 lei
- 11% Preț: 566.73 lei
- Preț: 268.97 lei
- 11% Preț: 683.51 lei
- 14% Preț: 737.64 lei
- 11% Preț: 676.17 lei
- Preț: 213.63 lei
- 11% Preț: 684.35 lei
- Preț: 275.85 lei
- 11% Preț: 685.55 lei
- 11% Preț: 682.65 lei
- 11% Preț: 681.78 lei
- 14% Preț: 700.71 lei
- 14% Preț: 705.16 lei
- Preț: 234.81 lei
- 11% Preț: 685.21 lei
- Preț: 233.82 lei
- Preț: 442.05 lei
- 14% Preț: 713.13 lei
- 14% Preț: 703.02 lei
- Preț: 233.63 lei
Preț: 281.22 lei
Nou
Puncte Express: 422
Preț estimativ în valută:
53.83€ • 55.98$ • 45.11£
53.83€ • 55.98$ • 45.11£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 14-28 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781558990166
ISBN-10: 155899016X
Pagini: 304
Dimensiuni: 152 x 228 x 28 mm
Greutate: 0.72 kg
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria MRS Proceedings
Locul publicării:New York, United States
ISBN-10: 155899016X
Pagini: 304
Dimensiuni: 152 x 228 x 28 mm
Greutate: 0.72 kg
Editura: Cambridge University Press
Colecția Cambridge University Press
Seria MRS Proceedings
Locul publicării:New York, United States
Cuprins
Part I. Structure of Surfaces, Interfaces and Multilayers; Part II. Absorption Spectroscopy and Electronic Structure; Part III. Absorption Spectroscopy: Structural Measurements; Part IV. Crystallography and Small-angle Scattering; Part V. X-ray Microprobe, Lithography and VUV Techniques; Part VI. Abstracts of Unpublished Papers; Author index; Subject index.
Descriere
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.