Röntgenstrukturanalyse organischer Verbindungen: Eine Einführung: Anleitungen für die chemische Laboratoriumspraxis, cartea 12
Autor G. Habermehl, S. Göttlicher, E. Klingbeilde Limba Germană Paperback – 11 noi 2011
Din seria Anleitungen für die chemische Laboratoriumspraxis
- 15% Preț: 438.07 lei
- Preț: 347.04 lei
- Preț: 422.90 lei
- Preț: 413.27 lei
- Preț: 422.52 lei
- 15% Preț: 439.05 lei
- 15% Preț: 436.28 lei
- 15% Preț: 438.40 lei
- Preț: 381.43 lei
- 15% Preț: 451.64 lei
- Preț: 480.83 lei
- 15% Preț: 468.90 lei
- 15% Preț: 472.84 lei
- 15% Preț: 473.49 lei
- Preț: 409.80 lei
- Preț: 444.94 lei
- Preț: 411.32 lei
- Preț: 409.80 lei
- 15% Preț: 489.95 lei
- Preț: 416.54 lei
- Preț: 446.47 lei
- Preț: 424.22 lei
Preț: 487.37 lei
Nou
Puncte Express: 731
Preț estimativ în valută:
93.27€ • 96.35$ • 77.62£
93.27€ • 96.35$ • 77.62£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 25 martie-08 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9783642655128
ISBN-10: 3642655122
Pagini: 288
Ilustrații: XII, 270 S.
Dimensiuni: 155 x 235 x 15 mm
Greutate: 0.41 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1973
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Anleitungen für die chemische Laboratoriumspraxis
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
ISBN-10: 3642655122
Pagini: 288
Ilustrații: XII, 270 S.
Dimensiuni: 155 x 235 x 15 mm
Greutate: 0.41 kg
Ediția:Softcover reprint of the original 1st ed. 1973
Editura: Springer Berlin, Heidelberg
Colecția Springer
Seria Anleitungen für die chemische Laboratoriumspraxis
Locul publicării:Berlin, Heidelberg, Germany
Public țintă
ResearchCuprins
I. Kristallographische Grundlagen.- 1. Symmetrieelemente.- 2. Symmetrieabhängige Punktlagen.- 3. Hintereinanderschaltung von Symmetrieoperationen.- 4. Kristallklassen, Kristallsysteme und Laue-Gruppen.- 5. Nomenklatur der Kristallklassen.- 6. Zusatzsymmetrieelemente und Raumgruppen.- 7. Wahl der Elementarzelle und Bravais-Gitter.- II. Beugung von Röntgenstrahlen in Kristallen.- 1. Die kinematische Theorie.- 2. Reziprokes Gitter und Bragg’sche Gleichung.- 3. Der Einfluß der Kristallstruktur auf die Röntgeninterferenzen.- 4. Das integrale Reflexionsvermögen.- 5. Einfluß der Absorption.- 6. Einfluß der Temperatur auf die Intensität der Röntgeninterferenzen.- 7. Anisotrope Temperaturfaktoren.- 8. Die Symmetrie des reziproken Gitters.- 9. Basiszentrierte Raumzentrierte und Flächenzentrierte Gitter — Integrate Auslöschungsgesetze.- III. Die wichtigsten Aufnahmeverfahren.- 1. Das Drehkristallverfahren.- 2. Das Weißenberg-Verfahren.- Die Weißenberg-Aufnahmen höherer Schichten (Normalstrahl-, Äqui-Inklinations- und Flat-Cone-Verfahren).- Der Lorentz-Faktor für das Weißenberg-Verfahren.- 3. Die Bürger-Präzessionsmethode.- Der Lorentz-Faktor für die Präzessionsmethode.- 4. Das DeJong-Bouman-Verfahren.- 5. Messung der Intensitäten der Röntgeninterferenzen.- IV. Die Anwendung von Fourier-Reihen bei der Kristallstrukturanalyse.- 1. Die Elektronendichte.- 2. Die Patterson-Funktion.- V. Absolutbestimmung der Strukturamplituden und Symmetriezentrumtest — Wilson Statistik.- VI. Phasenbestimmung der Strukturamplituden.- 1. Die Auswertung der Patterson-Funktion.- 2. Experimentelle Phasenbestimmung.- VII. Verfeinerung der Lage- und Schwingungsparameter der Atome.- Literaturverzeichnis zu den Kapiteln I–VII.- VIII. Beispiele.- 1. Strukturen, die mit derSchweratom-Methode bearbeitet wurden.- 2. Strukturaufklärungen nach der Methode des isomorphen Ersatzes.- 3. Faltmolekülmethode.- 4. Bildsuchfunktionen und Vektorkonvergenzmethode.- 5. Direkte Methoden.- Literaturverzeichnis zu Kapitel VIII.- Mathematischer Anhang.- 1. Vektoren.- 1.1. Definition und Veranschaulichung von Vektoren.- 1.2. Skalarprodukt, Vektorprodukt, orthonormierte und schiefwinklige Basis.- 2. Komplexe Zahlen.- 2.1. Definition und Veranschaulichung der komplexen Zahlen.- 2.2. Die Eulersche Formel.- 3. Fourier-Reihen und Fourier-Integrale.- 3.1. Fourier-Reihen.- 3.2. Fourier-Integrale.