Design for AT-Speed Test, Diagnosis and Measurement: Frontiers in Electronic Testing, cartea 15
Editat de Benoit Nadeau-Dostieen Limba Engleză Hardback – 30 sep 1999
Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
---|---|---|
Paperback (1) | 945.92 lei 43-57 zile | |
Springer Us – 26 apr 2013 | 945.92 lei 43-57 zile | |
Hardback (1) | 952.72 lei 43-57 zile | |
Springer Us – 30 sep 1999 | 952.72 lei 43-57 zile |
Din seria Frontiers in Electronic Testing
- 15% Preț: 639.25 lei
- 18% Preț: 1110.24 lei
- 18% Preț: 948.47 lei
- 18% Preț: 946.55 lei
- 18% Preț: 944.82 lei
- 18% Preț: 808.75 lei
- 18% Preț: 945.79 lei
- 18% Preț: 1226.24 lei
- 15% Preț: 644.49 lei
- 15% Preț: 649.87 lei
- 18% Preț: 943.07 lei
- 15% Preț: 642.51 lei
- 18% Preț: 948.61 lei
- 18% Preț: 953.65 lei
- 15% Preț: 645.14 lei
- 15% Preț: 644.30 lei
- 18% Preț: 951.29 lei
- 20% Preț: 990.30 lei
- 18% Preț: 968.03 lei
- 18% Preț: 947.35 lei
- 15% Preț: 642.51 lei
- 15% Preț: 646.11 lei
- 15% Preț: 641.85 lei
- 18% Preț: 950.96 lei
Preț: 952.72 lei
Preț vechi: 1161.85 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1429
Preț estimativ în valută:
182.32€ • 189.19$ • 152.39£
182.32€ • 189.19$ • 152.39£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 17-31 martie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780792386698
ISBN-10: 0792386698
Pagini: 239
Ilustrații: XVII, 239 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 21 mm
Greutate: 0.65 kg
Ediția:2000
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Frontiers in Electronic Testing
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0792386698
Pagini: 239
Ilustrații: XVII, 239 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 21 mm
Greutate: 0.65 kg
Ediția:2000
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Frontiers in Electronic Testing
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Technology Overview.- Memory Test and Diagnosis.- Logic Test and Diagnosis.- Embedded Test Design Flow.- Hierarchical Core Test.- Test and Measurement for PLLs and ADCs.- System Test and Diagnosis.- System Reuse of Embedded Test.