Boundary-Scan Interconnect Diagnosis: Frontiers in Electronic Testing, cartea 18
Autor José T. de Sousa, Peter Y.K. Cheungen Limba Engleză Hardback – 28 feb 2001
Besides the trivial solutions that are often used to solve this problem, there are many more methods that enable significant optimizations of test vector length and/or diagnostic resolution. The book surveys all existing methods of this kind and proposes new ones. In the new approach circuit and interconnect faults are carefully modeled, and graph techniques are applied to solve the problem. The original feature of the new method is the fact that it can be adjusted to provide shorter test sequences and/or greater diagnostic resolution. The effectiveness of existing and proposed methods is then evaluated using real electronic assemblies and published statistical data for an actual manufacturing process from HP.
Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
---|---|---|
Paperback (1) | 939.62 lei 6-8 săpt. | |
Springer Us – 7 dec 2010 | 939.62 lei 6-8 săpt. | |
Hardback (1) | 945.79 lei 6-8 săpt. | |
Springer Us – 28 feb 2001 | 945.79 lei 6-8 săpt. |
Din seria Frontiers in Electronic Testing
- 15% Preț: 639.25 lei
- 18% Preț: 1110.24 lei
- 18% Preț: 948.47 lei
- 18% Preț: 946.55 lei
- 18% Preț: 952.72 lei
- 18% Preț: 944.82 lei
- 18% Preț: 808.75 lei
- 18% Preț: 1226.24 lei
- 15% Preț: 644.49 lei
- 15% Preț: 649.87 lei
- 18% Preț: 943.07 lei
- 15% Preț: 642.51 lei
- 18% Preț: 948.61 lei
- 18% Preț: 953.65 lei
- 15% Preț: 645.14 lei
- 15% Preț: 644.30 lei
- 18% Preț: 951.29 lei
- 20% Preț: 990.30 lei
- 18% Preț: 968.03 lei
- 18% Preț: 947.35 lei
- 15% Preț: 642.51 lei
- 15% Preț: 646.11 lei
- 15% Preț: 641.85 lei
- 18% Preț: 950.96 lei
Preț: 945.79 lei
Preț vechi: 1153.39 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1419
Preț estimativ în valută:
180.100€ • 188.73$ • 150.43£
180.100€ • 188.73$ • 150.43£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 20 martie-03 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9780792373148
ISBN-10: 0792373146
Pagini: 168
Ilustrații: XXI, 168 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 13 mm
Greutate: 0.45 kg
Ediția:2001
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Frontiers in Electronic Testing
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 0792373146
Pagini: 168
Ilustrații: XXI, 168 p.
Dimensiuni: 155 x 235 x 13 mm
Greutate: 0.45 kg
Ediția:2001
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Frontiers in Electronic Testing
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
Interconnect Circuit and Fault Models.- Behavioral Interconnect Diagnosis.- Structural Interconnect Diagnosis.- Diagnostic Resolution Assessment.- Experimental Results.- Conclusion.