Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits: Frontiers in Electronic Testing, cartea 17
Autor M. Bushnell, Vishwani Agrawalen Limba Engleză Paperback – 7 apr 2013
Toate formatele și edițiile | Preț | Express |
---|---|---|
Paperback (1) | 808.75 lei 6-8 săpt. | |
Springer Us – 7 apr 2013 | 808.75 lei 6-8 săpt. | |
Hardback (1) | 815.54 lei 6-8 săpt. | |
Springer Us – 30 noi 2000 | 815.54 lei 6-8 săpt. |
Din seria Frontiers in Electronic Testing
- 15% Preț: 639.25 lei
- 18% Preț: 1110.24 lei
- 18% Preț: 948.47 lei
- 18% Preț: 946.55 lei
- 18% Preț: 952.72 lei
- 18% Preț: 944.82 lei
- 18% Preț: 945.79 lei
- 18% Preț: 1226.24 lei
- 15% Preț: 644.49 lei
- 15% Preț: 649.87 lei
- 18% Preț: 943.07 lei
- 15% Preț: 642.51 lei
- 18% Preț: 948.61 lei
- 18% Preț: 953.65 lei
- 15% Preț: 645.14 lei
- 15% Preț: 644.30 lei
- 18% Preț: 951.29 lei
- 20% Preț: 990.30 lei
- 18% Preț: 968.03 lei
- 18% Preț: 947.35 lei
- 15% Preț: 642.51 lei
- 15% Preț: 646.11 lei
- 15% Preț: 641.85 lei
- 18% Preț: 950.96 lei
Preț: 808.75 lei
Preț vechi: 986.29 lei
-18% Nou
Puncte Express: 1213
Preț estimativ în valută:
154.77€ • 161.38$ • 128.63£
154.77€ • 161.38$ • 128.63£
Carte tipărită la comandă
Livrare economică 20 martie-03 aprilie
Preluare comenzi: 021 569.72.76
Specificații
ISBN-13: 9781475781427
ISBN-10: 1475781423
Pagini: 712
Ilustrații: XVIII, 690 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 37 mm
Greutate: 1.21 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Frontiers in Electronic Testing
Locul publicării:New York, NY, United States
ISBN-10: 1475781423
Pagini: 712
Ilustrații: XVIII, 690 p.
Dimensiuni: 178 x 254 x 37 mm
Greutate: 1.21 kg
Ediția:2002
Editura: Springer Us
Colecția Springer
Seria Frontiers in Electronic Testing
Locul publicării:New York, NY, United States
Public țintă
ResearchCuprins
to Testing.- VLSI Testing Process and Test Equipment.- Test Economics and Product Quality.- Fault Modeling.- Test Methods.- Logic and Fault Simulation.- Testability Measures.- Combinational Circuit Test Generation.- Sequential Circuit Test Generation.- Memory Test.- DSP-Based Analog and Mixed-Signal Test.- Model-Based Analog and Mixed-Signal Test.- Delay Test.- IDDQ Test.- Design for Testability.- Digital DFT and Scan Design.- Built-In Self-Test.- Boundary Scan Standard.- Analog Test Bus Standard.- System Test and Core-Based Design.- The Future of Testing.